Substrat SiC de 12 pouces, type N, grande taille, applications RF hautes performances
Paramètres techniques
| Spécifications du substrat en carbure de silicium (SiC) de 12 pouces | |||||
| Grade | Production ZeroMPD Niveau (Niveau Z) | Production standard Niveau (Niveau P) | Niveau factice (Note D) | ||
| Diamètre | 3 0 0 mm~1305 mm | ||||
| Épaisseur | 4H-N | 750 μm ± 15 μm | 750 μm ± 25 μm | ||
| 4H-SI | 750 μm ± 15 μm | 750 μm ± 25 μm | |||
| Orientation de la plaquette | Hors axe : 4,0° vers <1120> ±0,5° pour 4H-N, sur axe : <0001> ±0,5° pour 4H-SI | ||||
| Densité des micropipes | 4H-N | ≤0,4 cm-2 | ≤4cm-2 | ≤25cm-2 | |
| 4H-SI | ≤5cm-2 | ≤10 cm-2 | ≤25cm-2 | ||
| Résistivité | 4H-N | 0,015 à 0,024 Ω·cm | 0,015 à 0,028 Ω·cm | ||
| 4H-SI | ≥1E10 Ω·cm | ≥1E5 Ω·cm | |||
| Orientation à plat primaire | {10-10} ±5,0° | ||||
| Longueur à plat primaire | 4H-N | N / A | |||
| 4H-SI | Entailler | ||||
| Exclusion des bords | 3 mm | ||||
| LTV/TTV/Arc/Déformation | ≤5 μm/≤15 μm/≤35 μm/≤55 μm | ≤5 μm/≤15 μm/≤35 □ μm/≤55 □ μm | |||
| Rugosité | Ra polonais ≤ 1 nm | ||||
| CMP Ra ≤ 0,2 nm | Ra ≤ 0,5 nm | ||||
| Fissures sur les bords causées par une lumière de haute intensité Plaques hexagonales éclairées par une lumière de haute intensité Zones polytypes éclairées par une lumière de haute intensité Inclusions de carbone visuelles Rayures sur la surface du silicone causées par une lumière de haute intensité | Aucun Surface cumulée ≤0,05% Aucun Surface cumulée ≤0,05% Aucun | Longueur cumulée ≤ 20 mm, longueur unitaire ≤ 2 mm Surface cumulée ≤0,1% Surface cumulée ≤ 3 % Surface cumulée ≤3% Longueur cumulée ≤ 1 × diamètre de la plaquette | |||
| Éclats de bord par lumière de haute intensité | Aucune dimension ≥ 0,2 mm de largeur et de profondeur n'est autorisée. | 7 autorisés, ≤1 mm chacun | |||
| (TSD) Déboîtement de la vis de filetage | ≤500 cm-2 | N / A | |||
| (BPD) Luxation du plan de base | ≤1000 cm-2 | N / A | |||
| Contamination de la surface du silicium par la lumière de haute intensité | Aucun | ||||
| Conditionnement | Cassette multi-plaquettes ou conteneur à plaquette unique | ||||
| Remarques : | |||||
| 1 Les limites de défauts s'appliquent à toute la surface de la plaquette, à l'exception de la zone d'exclusion du bord. 2Les rayures doivent être vérifiées uniquement sur la face en silicium. 3 Les données sur les dislocations proviennent uniquement de plaquettes gravées au KOH. | |||||
Caractéristiques principales
1. Avantage de la grande taille : Le substrat SiC de 12 pouces (substrat en carbure de silicium de 12 pouces) offre une surface de plaquette unique plus grande, permettant de produire plus de puces par plaquette, réduisant ainsi les coûts de fabrication et augmentant le rendement.
2. Matériau haute performance : La résistance aux hautes températures et la rigidité diélectrique élevée du carbure de silicium font du substrat de 12 pouces un matériau idéal pour les applications haute tension et haute fréquence, telles que les onduleurs de véhicules électriques et les systèmes de charge rapide.
3. Compatibilité de traitement : Malgré la dureté élevée et les difficultés de traitement du SiC, le substrat SiC de 12 pouces permet d'obtenir moins de défauts de surface grâce à des techniques de découpe et de polissage optimisées, améliorant ainsi le rendement des dispositifs.
4. Gestion thermique supérieure : Grâce à une meilleure conductivité thermique que les matériaux à base de silicium, le substrat de 12 pouces assure une dissipation thermique efficace dans les dispositifs haute puissance, prolongeant ainsi la durée de vie des équipements.
Principales applications
1. Véhicules électriques : Le substrat SiC de 12 pouces (substrat en carbure de silicium de 12 pouces) est un composant essentiel des systèmes de propulsion électrique de nouvelle génération, permettant des onduleurs à haut rendement qui améliorent l'autonomie et réduisent le temps de charge.
2. Stations de base 5G : Les substrats SiC de grande taille prennent en charge les dispositifs RF haute fréquence, répondant aux exigences des stations de base 5G en matière de puissance élevée et de faibles pertes.
3. Alimentations industrielles : Dans les onduleurs solaires et les réseaux intelligents, le substrat de 12 pouces peut supporter des tensions plus élevées tout en minimisant les pertes d'énergie.
4. Électronique grand public : Les futurs chargeurs rapides et alimentations pour centres de données pourraient adopter des substrats SiC de 12 pouces pour obtenir une taille compacte et une efficacité accrue.
Services de XKH
Nous sommes spécialisés dans les services de traitement personnalisés pour les substrats SiC de 12 pouces (substrats en carbure de silicium de 12 pouces), notamment :
1. Découpe et polissage : Traitement de substrat à faible dommage et à haute planéité adapté aux exigences du client, garantissant des performances stables du dispositif.
2. Support à la croissance épitaxiale : Services de plaquettes épitaxiales de haute qualité pour accélérer la fabrication de puces.
3. Prototypage en petits lots : Soutient la validation R&D pour les institutions de recherche et les entreprises, raccourcissant les cycles de développement.
4. Conseil technique : Solutions complètes, de la sélection des matériaux à l'optimisation des processus, aidant les clients à surmonter les défis liés au traitement du SiC.
Que ce soit pour la production en série ou la personnalisation spécialisée, nos services de substrats SiC de 12 pouces s'adaptent aux besoins de votre projet, favorisant les avancées technologiques.









