GaN 50,8 mm 2 pouces sur plaquette épi-couche saphir
Application de feuille épitaxiale GaN en nitrure de gallium
Basées sur les performances du nitrure de gallium, les puces épitaxiales en nitrure de gallium conviennent principalement aux applications haute puissance, haute fréquence et basse tension.
Cela se reflète dans :
1) Bande interdite élevée : une bande interdite élevée améliore le niveau de tension des dispositifs au nitrure de gallium et peut produire une puissance plus élevée que les dispositifs à l'arséniure de gallium, ce qui est particulièrement adapté aux stations de base de communication 5G, aux radars militaires et à d'autres domaines ;
2) Efficacité de conversion élevée : la résistance à l'état passant des dispositifs électroniques de puissance à découpage au nitrure de gallium est inférieure de 3 ordres de grandeur à celle des dispositifs au silicium, ce qui peut réduire considérablement la perte à la commutation ;
3) Conductivité thermique élevée : la conductivité thermique élevée du nitrure de gallium lui confère d'excellentes performances de dissipation thermique, adaptées à la production d'appareils à haute puissance, à haute température et dans d'autres domaines ;
4) Intensité du champ électrique de claquage : Bien que l'intensité du champ électrique de claquage du nitrure de gallium soit proche de celle du nitrure de silicium, en raison du processus semi-conducteur, de l'inadéquation du réseau des matériaux et d'autres facteurs, la tolérance de tension des dispositifs au nitrure de gallium est généralement d'environ 1 000 V, et le la tension d'utilisation sûre est généralement inférieure à 650 V.
Article | GaN-TCU-C50 | GaN-TCN-C50 | GaN-TCP-C50 |
Dimensions | e 50,8 mm ± 0,1 mm | ||
Épaisseur | 4,5 ± 0,5 um | 4,5 ± 0,5 um | |
Orientation | Plan C (0001) ±0,5° | ||
Type de conduction | Type N (non dopé) | Type N (dopé au Si) | Type P (dopé au magnésium) |
Résistivité (3O0K) | < 0,5 Q・cm | < 0,05 Q・cm | ~ 10 Q・cm |
Concentration de transporteur | <5x1017cm-3 | > 1x1018cm-3 | > 6x1016cm-3 |
Mobilité | ~ 300cm2/Contre | ~ 200cm2/Contre | ~ 10cm2/Contre |
Densité de luxation | Moins de 5x108cm-2(calculé par les FWHM de XRD) | ||
Structure du substrat | GaN sur Sapphire (Standard : SSP Option : DSP) | ||
Surface utilisable | > 90% | ||
Emballer | Conditionné en salle blanche de classe 100, en cassettes de 25 pièces ou en conteneurs simples, sous atmosphère d'azote. |
* Une autre épaisseur peut être personnalisée