Substrat de récupération factice de type P/N (100) 1-100 Ω sur plaquette de silicium de 8 pouces

Plaquette de silicium de 8 pouces, type P/N (100), substrat factice de récupération 1-100 Ω (Image mise en avant)

Description courte :

Nous disposons d'un stock important de plaquettes polies double face, de 50 à 400 mm de diamètre. Si votre spécification n'est pas disponible, nous entretenons des relations de longue date avec de nombreux fournisseurs capables de fabriquer des plaquettes sur mesure, répondant à toutes vos exigences. Les plaquettes polies double face peuvent être utilisées pour le silicium, le verre et d'autres matériaux couramment employés dans l'industrie des semi-conducteurs.

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Caractéristiques

Présentation de la boîte à plaquettes

La plaquette de silicium de 8 pouces est un substrat couramment utilisé, notamment dans la fabrication de circuits intégrés. Elle sert à la production de divers types de circuits intégrés, tels que les microprocesseurs, les puces mémoire, les capteurs et autres dispositifs électroniques. Les plaquettes de silicium de 8 pouces sont particulièrement adaptées à la fabrication de puces de grande taille, grâce à leur surface plus importante et à la possibilité d'intégrer davantage de puces sur une seule plaquette, ce qui améliore la productivité. De plus, leurs excellentes propriétés mécaniques et chimiques les rendent idéales pour la production de circuits intégrés à grande échelle.

Caractéristiques du produit

Plaquette de silicium polie de type P/N de 8 pouces (25 pièces)

Orientation : 200

Résistivité : 0,1 à 40 ohm•cm (peut varier d’un lot à l’autre)

Épaisseur : 725 ± 20 µm

Qualité de test/de surveillance/de test

PROPRIÉTÉS DES MATÉRIAUX

Paramètre	Caractéristiques
Type/Dopant	P, N de bore, N de phosphore, N d'antimoine, N d'arsenic
Orientations	<100>, <111> découpe selon les spécifications du client
teneur en oxygène	10¹⁹ppmA Tolérances personnalisées selon les spécifications du client
teneur en carbone	< 0,6 ppmA

PROPRIÉTÉS MÉCANIQUES

Paramètre	Prime	Moniteur/Test A	Test
Diamètre	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,2 mm	200 ± 0,5 mm
Épaisseur	725±20µm (standard)	725 ± 25 µm (standard) 450 ± 25 µm 625 ± 25 µm 1000 ± 25 µm 1300±25µm 1500 ± 25 µm	725±50µm (standard)
TTV	< 5 µm	< 10 µm	< 15 µm
Arc	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Envelopper	< 30 µm	< 30 µm	< 50 µm
Arrondi des bords	SEMI-STD
Marquage	Appartements semi-plats uniquement, appartements semi-standards Jeida, Notch

Paramètre	Prime	Moniteur/Test A	Test
Critères de la face avant
État de surface	Chimique Mécanique Poli	Chimique Mécanique Poli	Chimique Mécanique Poli
Rugosité de surface	< 2 A°	< 2 A°	< 2 A°
Contamination Particules de taille supérieure à 0,3 µm	= 20	= 20	= 30
Brume, fosses zeste d'orange	Aucun	Aucun	Aucun
Scie, Marques Stries	Aucun	Aucun	Aucun
Critères du verso
Fissures, pattes d'oie, marques de scie, taches	Aucun	Aucun	Aucun
État de surface	gravure caustique