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Produits phares

  • Plaquette conductrice factice en SiC 4H-N de 8 pouces, 200 mm, qualité recherche
    Conducteur de plaquette SiC 4H-N de 8 pouces et 200 mm...
  • Support de substrat de plaquette de saphir 150 mm 6 pouces 0,7 mm 0,5 mm C-Plane SSP/DSP
    150 mm 6 pouces 0,7 mm 0,5 mm Saphir...
  • Plaquette de saphir 4 pouces C-Plane SSP/DSP 0,43 mm 0,65 mm
    Plaquette de saphir de 4 pouces C-Plane SS...
  • Fenêtre en saphir Lentille en verre saphir Matériau monocristallin Al2O3
    Fenêtre en saphir Verre saphir l...
  • Plaquette de saphir de 50,8 mm de diamètre, fenêtre en saphir, transmission optique élevée DSP/SSP
    Dia50.8mm Saphir Wafer Saphir...
  • Gabarit AlN 50,8 mm/100 mm sur gabarit AlN NPSS/FSS sur saphir
    Gabarit AlN 50,8 mm/100 mm sur NPS...

Produits

  • Méthode de traitement de surface des tiges laser en cristal de saphir dopé au titane

    Méthode de traitement de surface des tiges laser en cristal de saphir dopé au titane

  • Plaquettes de carbure de silicium SiC de 8 pouces, 200 mm, type 4H-N, qualité de production, épaisseur 500 µm

    Plaquettes de carbure de silicium SiC de 8 pouces, 200 mm, type 4H-N, qualité de production, épaisseur 500 µm

  • Substrat en carbure de silicium 6H-N de 2 pouces, plaquette de silicium, double polissage, conducteur, qualité supérieure, qualité Mos

    Substrat en carbure de silicium 6H-N de 2 pouces, plaquette de silicium, double polissage, conducteur, qualité supérieure, qualité Mos

  • Substrat de wafer GaN de 200 mm et 8 pouces sur couche épitaxiale de saphir

    Substrat de wafer GaN de 200 mm et 8 pouces sur couche épitaxiale de saphir

  • Tube saphir KY Méthode tout transparent Personnalisable

    Tube saphir KY Méthode tout transparent Personnalisable

  • Substrat composite SiC conducteur 6 pouces 4H Diamètre 150 mm Ra ≤ 0,2 nm Déformation ≤ 35 μm

    Substrat composite SiC conducteur 6 pouces 4H Diamètre 150 mm Ra ≤ 0,2 nm Déformation ≤ 35 μm

  • Équipement de perçage laser infrarouge nanoseconde pour le perçage du verre d'une épaisseur ≤ 20 mm

    Équipement de perçage laser infrarouge nanoseconde pour le perçage du verre d'une épaisseur ≤ 20 mm

  • Équipement de technologie laser Microjet pour la découpe de plaquettes et le traitement de matériaux SiC

    Équipement de technologie laser Microjet pour la découpe de plaquettes et le traitement de matériaux SiC

  • Machine de découpe de fil diamanté en carbure de silicium pour le traitement des lingots de SiC (4/6/8/12 pouces)

    Machine de découpe de fil diamanté en carbure de silicium pour le traitement des lingots de SiC (4/6/8/12 pouces)

  • Procédé CVD pour la production de matières premières SiC de haute pureté dans un four de synthèse de carbure de silicium à 1600℃

    Procédé CVD pour la production de matières premières SiC de haute pureté dans un four de synthèse de carbure de silicium à 1600℃

  • Cristal long en carbure de silicium résistant, procédé PVT, croissance de cristaux en lingots de SiC de 6/8/12 pouces

    Cristal long en carbure de silicium résistant, procédé PVT, croissance de cristaux en lingots de SiC de 6/8/12 pouces

  • Machine carrée à double station pour le traitement de tiges de silicium monocristallin, planéité de surface de 6/8/12 pouces Ra≤0,5 μm

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